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Application of deep learning methods in materials microscopy for the quality assessment of lithium-ion batteries and sintered NdFeB magnets

Badmos, Olatomiwa 1
1 Fakultät für Maschinenbau (MACH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract:

Die Qualitätskontrolle konzentriert sich auf die Erkennung von Produktfehlern und die Überwachung von Aktivitäten, um zu überprüfen, ob die Produkte den gewünschten Qualitätsstandard erfüllen. Viele Ansätze für die Qualitätskontrolle verwenden spezialisierte Bildverarbeitungssoftware, die auf manuell entwickelten Merkmalen basiert, die von Fachleuten entwickelt wurden, um Objekte zu erkennen und Bilder zu analysieren. Diese Modelle sind jedoch mühsam, kostspielig in der Entwicklung und schwer zu pflegen, während die erstellte Lösung oft spröde ist und für leicht unterschiedliche Anwendungsfälle erhebliche Anpassungen erfordert. ... mehr

Abstract (englisch):

Quality control focuses on identifying defects in products and monitoring activities to verify that products meet the desired quality standard. Many approaches for quality inspection use specialized image processing software based on manually engineered features developed by domain experts to recognise objects and analyse images. However, these models are laborious, costly to develop, and difficult to maintain, while the produced solution is often brittle, requiring significant adjustments for slightly different use cases. For these reasons, it is still common for quality inspection in industries to be done manually, which is time-consuming and prone to various human errors. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000156125
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 28.02.2023
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000156125
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xvi, 167 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Prüfungsdatum 18.01.2023
Schlagwörter Materials microscopy, Microstructure, Deep learning, Convolutional neural networks, Lithium-ion battery, Sintered NdFeB magnets, Quality assessment, Defects, Image analysis
Referent/Betreuer Schneider, Gerhard
Friederich, Pascal
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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