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New Approaches of Side-Channel Attacks Based on Chip Testing Methods

Meschkov, Sergej 1; Gnad, Dennis R. E. 2; Krautter, Jonas ORCID iD icon 2; Tahoori, Mehdi B. 2
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2022.3207709
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Zitationen: 1
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 05.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000160798
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 42
Heft 5
Seiten 1411–1424
Nachgewiesen in Dimensions
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