Measurements of total ionizing dose effects in TPSCo 65 nm and influence of NMOS bulk bias
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Astroteilchenphysik (IAP) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.02.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000160843 |
| HGF-Programm | 54.12.01 (POF IV, LK 01) Detection and Measurement |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 18 |
| Heft | 02 |
| Seiten | C02036 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |