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Fully Automated Wide Temperature Range Semiconductor Characterization

Frank, S. R. ORCID iD icon 1; Hansel, J. 1; Bitterle, J. 1; Schwendemann, R. 1; Hiller, M. 1
1 Elektrotechnisches Institut (ETI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000162805
Veröffentlicht am 05.10.2023
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Elektrotechnisches Institut (ETI)
Publikationstyp Poster
Publikationsmonat/-jahr 09.2023
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000162805
Veranstaltung 25th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE`23 ECCE Europe 2023), Aalborg, Dänemark, 04.09.2023 – 08.09.2023
Relationen in KITopen
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