Accelerating Materials Discovery: Automated Identification of Prospects from X‐Ray Diffraction Data in Fast Screening Experiments
Schuetzke, Jan
1; Schweidler, Simon
2; Muenke, Friedrich R.
1; Orth, Andre 1; Khandelwal, Anurag D. 2; Breitung, Ben
2; Aghassi-Hagmann, Jasmin
2; Reischl, Markus
1
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Schweidler, Simon
2; Muenke, Friedrich R.
1; Orth, Andre 1; Khandelwal, Anurag D. 2; Breitung, Ben
2; Aghassi-Hagmann, Jasmin
2; Reischl, Markus
11 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.01.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2640-4567 KITopen-ID: 1000166061 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Erschienen in | Advanced Intelligent Systems |
| Verlag | Wiley-VCH Verlag |
| Vorab online veröffentlicht am | 24.12.2023 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |