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Rapid Flow Behavior Modeling of Thermal Interface Materials Using Deep Neural Networks

Baeuerle, Simon 1; Gebhardt, Marius; Barth, Jonas; Mikut, Ralf ORCID iD icon 1; Steimert, Andreas
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000168118
Veröffentlicht am 06.02.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2169-3536
KITopen-ID: 1000168118
HGF-Programm 47.14.02 (POF IV, LK 01) Information Storage and Processing in the Cell Nucleus
Erschienen in IEEE Access
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 12
Seiten 17782–17792
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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