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One-Shot Online Testing of Deep Neural Networks Based on Distribution Shift Detection

Ahmed, Soyed Tuhin ORCID iD icon 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000176398
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 43
Heft 10
Seiten 3250 – 3263
Vorab online veröffentlicht am 08.04.2024
Nachgewiesen in Web of Science
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