| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000176420 |
| Umfang | 10 S. |
| Vorab online veröffentlicht am | 08.04.2024 |
| Schlagwörter | one-shot testing, single-shot testing, functional testing, Memristor |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex arXiv |
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