Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
Publikationsmonat/-jahr | 10.2024 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 1000176420 |
Umfang | 10 S. |
Vorab online veröffentlicht am | 08.04.2024 |
Schlagwörter | one-shot testing, single-shot testing, functional testing, Memristor |
Nachgewiesen in | Dimensions arXiv |
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