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Design Robustness Index for Evaluating the Robustness of Product Concept

Li, Jiahang 1; Demir, Fehmi; Renner, Philip; Grauberger, Patric ORCID iD icon 1; Matthiesen, Sven 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000177592
Veröffentlicht am 19.12.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsmonat/-jahr 12.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2194-1629
KITopen-ID: 1000177592
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang 15 S.
Serie KIT Scientific Working Papers ; 255
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