On the Local Ultrametricity of Finite Metric Data
Bradley, Patrick Erik
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1 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Abstract:
New local ultrametricity measures for finite metric data are proposed through the viewpoint that their Vietoris-Rips corners are samples from p-adic Mumford curves endowed with a Radon measure coming from a regular differential 1-form. This is experimentally applied to the iris dataset.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsdatum | 13.08.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0176-4268, 1432-1343 KITopen-ID: 1000180437 |
| Verlag | arxiv |
| Serie | Computer Science - Information Retrieval ; 2408.07174 |
| Nachgewiesen in | arXiv OpenAlex Dimensions |
| Relationen in KITopen |