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On the Local Ultrametricity of Finite Metric Data

Bradley, Patrick Erik ORCID iD icon 1
1 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract:

New local ultrametricity measures for finite metric data are proposed through the viewpoint that their Vietoris-Rips corners are samples from p-adic Mumford curves endowed with a Radon measure coming from a regular differential 1-form. This is experimentally applied to three datasets.


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000180432
Veröffentlicht am 26.03.2025
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00357-025-09508-3
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2025
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0176-4268, 1432-1343
KITopen-ID: 1000180432
HGF-Programm 12.17.21 (POF IV, LK 01) Membrane materials & processes in water process engineering
Erschienen in Journal of classification
Verlag Springer
Band 42
Heft 3
Seiten 624–638
Projektinformation 469999674 (DFG, DFG EIN, BR 2128/21-1)
469999674 (DFG, DFG EIN, BR 3513/14-1)
Vorab online veröffentlicht am 25.03.2025
Nachgewiesen in OpenAlex
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