On the Local Ultrametricity of Finite Metric Data
Bradley, Patrick Erik
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1 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Abstract:
New local ultrametricity measures for finite metric data are proposed through the viewpoint that their Vietoris-Rips corners are samples from p-adic Mumford curves endowed with a Radon measure coming from a regular differential 1-form. This is experimentally applied to three datasets.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0176-4268, 1432-1343 KITopen-ID: 1000180432 |
| Erschienen in | Journal of classification |
| Verlag | Springer |
| Projektinformation | DFG, DFG EIN, BR 2128/21-1 DFG, DFG EIN, BR 3513/14-1 |
| Vorab online veröffentlicht am | 25.03.2025 |
| Relationen in KITopen |
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seit 28.03.2025
seit 28.03.2025