Are Foundation Models Ready for Industrial Defect Recognition? A Reality Check on Real-World Data
Baeuerle, Simon 1; Khanna, Pratik 1; Friederich, Nils
1,2; Sitcheu, Angelo Jovin Yamachui
1; Shakirov, Damir; Steimer, Andreas; Mikut, Ralf
1
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Biologische und Chemische Systeme (IBCS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,2; Sitcheu, Angelo Jovin Yamachui
1; Shakirov, Damir; Steimer, Andreas; Mikut, Ralf
11 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Biologische und Chemische Systeme (IBCS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) Institut für Biologische und Chemische Systeme (IBCS) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsjahr | 2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000190076 |
| Verlag | arxiv |
| Umfang | 19 S. |
| Schlagwörter | Computer Vision and Pattern Recognition (cs.CV) |
| Nachgewiesen in | OpenAlex arXiv |
| Relationen in KITopen |