Is your secure test infrastructure secure enough? : Attacks based on delay test patterns using transient behavior analysis
Meschkov, Sergej
1; Gnad, Dennis R. E. 1; Krautter, Jonas
1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gnad, Dennis R. E. 1; Krautter, Jonas
1; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-6654-1695-5 KITopen-ID: 1000193345 |
| Erschienen in | 2021 IEEE International Test Conference (ITC) |
| Veranstaltung | IEEE International Test Conference (ITC 2021), Anaheim, CA, USA, 10.10.2021 – 15.10.2021 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 334–338 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus |