| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 27.04.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-6337-0 KITopen-ID: 1000194774 |
| Erschienen in | 2026 IEEE 44th VLSI Test Symposium (VTS) |
| Veranstaltung | 44th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2026), Napa, CA, USA, 27.04.2026 – 29.04.2026 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–11 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |