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Validation of a model for radon-induced background processes in electrostatic spectrometers

Wandkowsky, N.; Drexlin, G.; Fränkle, F.M.; Glück, F.; Groh, S.; Mertens, S.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0954-3899/40/8/085102
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Zitationen: 11
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Zitationen: 8
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IKP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110093197
HGF-Programm 51.54.01 (POF II, LK 02)
Erschienen in Journal of Physics G: Nuclear and Particle Physics
Band 40
Seiten 085102/1-18
Nachgewiesen in Scopus
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