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Loss tangent measurement on synthetic single diamond (SCD) samples

Mazzocchi, Francesco ORCID iD icon 1; Scherer, Theo A. 1; Meier, Andreas 1; Torge, Maika 1; Yamada, H.
1 Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-147993877-3
KITopen-ID: 170098067
HGF-Programm 31.30.04 (POF II, LK 01) ECRH Heiz.u.Strombetr. Port Plug-Entw.
Erschienen in 39th International Conference on Infrared, Millimeter, and THz Waves (IRMMW-THz 2014), Tucson, Ariz., September 14-19, 2014
Veranstaltung 39th International Conference on Infrared, Millimeter, and THz Waves (IRMMW-THz 2014), Tusconcito, AZ, USA, 14.09.2014 – 19.09.2014
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art.Nr. 6956191
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