KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRMMW-THz.2014.6956191

Loss tangent measurement on synthetic single diamond (SCD) samples

Mazzocchi, F.; Scherer, T.A.; Meier, A.; Torge, M.; Yamada, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-147993877-3
KITopen ID: 170098067
HGF-Programm 31.30.04; LK 01
Erschienen in 39th International Conference on Infrared, Millimeter, and THz Waves (IRMMW-THz 2014), Tucson, Ariz., September 14-19, 2014
Seiten Article no 6956191
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page