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Loss tangent measurement on synthetic single diamond (SCD) samples

Mazzocchi, Francesco ORCID iD icon 1; Scherer, T. A. 1; Meier, A. 1; Torge, M. 1; Yamada, H.
1 Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/240097106
Veröffentlicht am 06.03.2023
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240097106
HGF-Programm 31.30.04 (POF II, LK 01) ECRH Heiz.u.Strombetr. Port Plug-Entw.
Veranstaltung 39th International Conference on Infrared, Millimeter, and THz Waves (IRMMW-THz 2014), Tusconcito, AZ, USA, 14.09.2014 – 19.09.2014
Relationen in KITopen
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