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Loss tangent measurement on synthetic single diamond (SCD) samples

Mazzocchi, F.; Scherer, T.A.; Meier, A.; Torge, M.; Yamada, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240097106
HGF-Programm 31.30.04 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 39th International Conference on Infrared, Millimeter, and THz Waves (IRMMW-THz 2014), Tucson, Ariz., September 14-19, 2014
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