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Adaptive separation of random lines and background

Beyerer, Jürgen; Puente Leon, Fernando


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/183898
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0036-1860
urn:nbn:de:swb:90-AAA1838981
KITopen-ID: 183898
Erschienen in Optical Engineering
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Band 37
Heft 10
Seiten 2733 - 2741
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