Combined XPS and ToF-SIMS characterization of solution processed organic light emitting diodes (OLEDs)
Bruns, M.; Hoefle, S.; Colsmann, A.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220103769 |
| HGF-Programm | 49.02.07 (POF III, LK 02) XPS |
| Erscheinungsvermerk | 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '15), Granada, E, September 28 - October 1, 2015 |