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Combined XPS and ToF-SIMS characterization of solution processed organic light emitting diodes (OLEDs)

Bruns, M.; Hoefle, S.; Colsmann, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220103769
HGF-Programm 49.02.07; LK 02
Erscheinungsvermerk 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '15), Granada, E, September 28 - October 1, 2015
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