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Combined XPS and ToF-SIMS characterization of solution processed organic light emitting diodes (OLEDs)

Bruns, M.; Hoefle, S.; Colsmann, A.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/220103769
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220103769
HGF-Programm 49.02.07 (POF III, LK 02)
Erscheinungsvermerk 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '15), Granada, E, September 28 - October 1, 2015
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