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Statistical analysis of fatigue crack propagation for natural flaws in silicon nitride

Härtelt, M.; Riesch-Oppermann, H.; Kruzic, J.J.; Kraft, O.

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DOI: 10.5445/IR/230083340
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seit 03.08.2018
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230083340
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 2nd Internat.Conf.on Engineering against Fracture (ICEAF II), Mykonos, GR, June 22-24, 2011
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