Statistical analysis of fatigue crack propagation for natural flaws in silicon nitride
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230083340 |
| HGF-Programm | 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | 2nd Internat.Conf.on Engineering against Fracture (ICEAF II), Mykonos, GR, June 22-24, 2011 |