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Dielectric and structural characterization of codoped Ba₀̣₆Sr₀̣₄TiO₃ thin films for tunable passive microwave applications

Stemme, F.; Geßwein, H.; Eichel, R.; Drahus, M.; Sazegar, M.; Binder, J.R.; Bruns, M.

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DOI: 10.5445/IR/230086137
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230086137
HGF-Programm 43.12.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Electronic Materials and Applications 2012, Orlando, Fla., January 18-20, 2012
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