In-stiu X-ray reflectivity measurements during DC sputtering of vanadium carbide thin films
Kaufholz, M.; Krause, B.
; Kotapati, S.; Ulrich, S.; Stüber, M.; Baumbach, T.
; Kotapati, S.; Ulrich, S.; Stüber, M.; Baumbach, T.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230090542 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | 76.Jahrestagung der DPG und DPG-Frühjahrstagung, Fachverband Dünne Schichten, Berlin, 25.-30.März 2012 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.47(2012), DS 26.3 |