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Evaluating model fidelity in an aerial image analysis system

Quint, Franz; Sties, Manfred


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/233996
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1996
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-AAA2339963
KITopen-ID: 233996
Erscheinungsvermerk In: 18th Congress, International Society for Photogrammetry and Remote Sensing, Vienna, Austria 1996. Ed.: K. Kraus. Pt. B3. S. 669-674. (International archives of photogrammetry and remote sensing. 31,B3.)
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