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Spatially-resolved x-ray spectroscopy at CAMD

Moelders, Nicholas; Moser, Herbert O.; Saile, Volker; Schilling, P. J.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/25999
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 25999
Reportnummer: FZKA-6314
HGF-Programm 41.01.01 (Vor POF, LK 01)
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Erscheinungsvermerk Karlsruhe 1999. (Wissenschaftliche Berichte. FZKA. 6314.) Fak. f. Maschinenbau, Diss. v. 15.4.1999 von Nicholas Mölders.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Prüfungsdaten Diss. v. 15.4.1999
Externe Relationen Abstract/Volltext
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