KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

New Definition of Reliability, Continuous Lifetime Prediction, and Learning Processes

Caldarola, L.

Open Access Logo


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270006699
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 1973
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 270006699
Reportnummer: KFK-1847
Erscheinungsvermerk International Conference on Reliability, Liverpool, July 16-27, 1973 KFK-1847 (Juli 73) EUR-4969e
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page