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Study of the Latent Fading of NTA Film and Track Etching Detectors at Various Temperatures and Humidities

Sayed, A.M.; Piesch, E.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270007734
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Sicherheit (HS)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 1974
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 270007734
Reportnummer: KFK-2032
Erscheinungsvermerk KFK-2032 (August 74)
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