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Characteristic current degradation of commercial NbTi-multifilamentary superconductors due to annealing

Maurer, W.; Münch, H.; Schneider, Th.; Ruf, C.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270045773
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 270045773
Reportnummer: FZKA-6320
HGF-Programm 31.03.08 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Wissenschaftliche Berichte, FZKA-6320 (Juli 99)
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