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DOI: 10.5445/KSP/1000021838
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Detection and characterization of inclusions in impedance tomography

Schmitt, Susanne

The topic of this work are two further developments of the Factorization method for electrical impedance tomography.
We present a modification of this method that is capable of detecting mixed inclusions, i.e. both inclusions with a higher as well as inclusions with a lower conductivity than the background medium. In addition, we derive a new method to compute the conductivity inside inclusions after they have been localized.

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Algebra und Geometrie (IAG)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-635-9
URN: urn:nbn:de:0072-218386
KITopen ID: 1000021838
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang VIII, 135 S.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Mathematik (MATH)
Institut Institut für Algebra und Geometrie (IAG)
Prüfungsdaten 22.12.2011
Referent/Betreuer Prof. A. Kirsch
Schlagworte Inverse Problem, Electrical Impedance Tomography, Factorization Method
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