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Irgenfried, Stephan; Negara, Christian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-965-7
URN: urn:nbn:de:swb:90-340409
KITopen ID: 1000034040
Erschienen in OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Ed.: J. Beyerer
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 203-214
URLs Gesamtwerk
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