| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-86644-965-7 urn:nbn:de:swb:90-340409 KITopen-ID: 1000034040 |
| Erschienen in | OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - Conference Proceedings, Karlsruhe, 6. - 7. März 2013. Ed.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Seiten | 203-214 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Relationen in KITopen |