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Untersuchung diffus spiegelnder Oberflächen mittels Infrarotdeflektometrie

Höfer, Sebastian

Abstract:

Die Deflektometrie ist ein optisches Inspektionsverfahren für spiegelnde Oberflächen, welches eine hohe Empfindlichkeit gegenüber Neigungsänderungen der Oberfläche bietet. In dieser Arbeit werden mehrere Ansätze vorgestellt, um Deflektometrie im thermischen Infrarotspektrum umzusetzen. Viele technische Oberflächen, die im sichtbaren Spektrum diffus erscheinen, weisen im langwelligen Infrarot eine spiegelnde Reflexion auf, sodass hier das Verfahren der Infrarotdeflektometrie anwendbar ist.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000065073
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-650732
KITopen-ID: 1000065073
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang VI, 224 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Prüfungsdatum 08.02.2016
Schlagwörter Infrarotdeflektometrie, Deflektometrie, Infrarot Spektrum, Automatische Sichtprüfung, diffus spiegelnde Oberflächen, thermische Muster
Relationen in KITopen
Referent/Betreuer Beyerer, J.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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