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Untersuchung diffus spiegelnder Oberflächen mittels Infrarotdeflektometrie

Höfer, Sebastian

Abstract: Die Deflektometrie ist ein optisches Inspektionsverfahren für spiegelnde Oberflächen, welches eine hohe Empfindlichkeit gegenüber Neigungsänderungen der Oberfläche bietet. In dieser Arbeit werden mehrere Ansätze vorgestellt, um Deflektometrie im thermischen Infrarotspektrum umzusetzen. Viele technische Oberflächen, die im sichtbaren Spektrum diffus erscheinen, weisen im langwelligen Infrarot eine spiegelnde Reflexion auf, sodass hier das Verfahren der Infrarotdeflektometrie anwendbar ist.


Zugehörige Institution(en) am KIT Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator DOI(KIT): 10.5445/IR/1000065073
URN: urn:nbn:de:swb:90-650732
KITopen ID: 1000065073
Verlag Karlsruhe
Umfang VI, 224 S.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Prüfungsdaten 08.02.2016
Referent/Betreuer Prof. J. Beyerer
Lizenz CC BY-SA 3.0 DE: Creative Commons Namensnennung – Weitergabe unter gleichen Bedingungen 3.0 Deutschland
Schlagworte Infrarotdeflektometrie, Deflektometrie, Infrarot Spektrum, Automatische Sichtprüfung, diffus spiegelnde Oberflächen, thermische Muster
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