KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Electron beam broadening in electron‐transparent samples at low electron energies [in press]

Hugenschmidt, M.; Müller, E.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2720, 1365-2818
KITopen-ID: 1000094238
Erschienen in Journal of microscopy
Vorab online veröffentlicht am 02.05.2019
Schlagworte Electron beam broadening, Low-energy STEM, LVSTEM, Scanning transmission electron microscopy, STEM-in-SEM, TSEM.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page