Electron beam broadening in electron‐transparent samples at low electron energies
Hugenschmidt, M.
1; Müller, E.
1; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Müller, E.
1; Gerthsen, D. 11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | 3D Matter Made to Order (3DMM2O) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0022-2720, 1365-2818 KITopen-ID: 1000094238 |
| Erschienen in | Journal of microscopy |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 274 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 150-157 |
| Vorab online veröffentlicht am | 18.04.2019 |
| Schlagwörter | Electron beam broadening, Low-energy STEM, LVSTEM, Scanning transmission electron microscopy, STEM-in-SEM, TSEM. |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |
| Relationen in KITopen |
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