Electron beam broadening in electron‐transparent samples at low electron energies

¹; Gerthsen, D. ¹
¹ Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1111/jmi.12793

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Zugehörige Institution(en) am KIT	3D Matter Made to Order (3DMM2O) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	06.2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0022-2720, 1365-2818 KITopen-ID: 1000094238
Erschienen in	Journal of microscopy
Verlag	John Wiley and Sons
Band	274
Heft	3
Seiten	150-157
Vorab online veröffentlicht am	18.04.2019
Schlagwörter	Electron beam broadening, Low-energy STEM, LVSTEM, Scanning transmission electron microscopy, STEM-in-SEM, TSEM.
Nachgewiesen in	OpenAlex Dimensions Scopus Web of Science
Relationen in KITopen	Verweist auf Beam broadening measured in transmission mode at low electron energies in a scanning electron microscope. Hugenschmidt, Milena; Müller, Erich; Gerthsen, Dagmar (2019) Poster (1000123912) Scanning Transmission Electron Microscopy in a Scanning Electron Microscope: Electron-Beam Broadening, Contamination, and Investigation of ZIF-8 by Correlative Electron Microscopy. Hugenschmidt, Milena; Gerthsen, Dagmar; Kleebe, Hans-Joachim (2022) Hochschulschrift (1000144435)
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