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Resolving locations of defects in superconducting transmon qubits

Bilmes, Alexander

Abstract (englisch):
Despite tremendous progress of quantum computation with superconducting qubits, up-scaling for practical applications is hindered by decoherence and fluctuations induced by material defects. In this work, a qubit interface has been developed to study the microscopic nature of individual defects in a probe material. Further, a portable method has been developed to find locations of individual defects in ready-made qubit samples, which offers to test and improve micro-fabrication of qubits.

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Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000097557
Veröffentlicht am 26.11.2019
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0967-7
ISSN: 2191-9925
KITopen-ID: 1000097557
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang II, 110 S.
Serie Experimental Condensed Matter Physics / Karlsruher Institut für Technologie, Physikalisches Institut ; 27
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Physikalisches Institut (PHI)
Prüfungsdatum 08.02.2019
Referent/Betreuer Prof. A. V. Ustinov
Schlagwörter Quanten Bits, Transmon Qubit, Quantenrechner, Materialdefekte und Dekohärenz, Defektspektroskopie mitt elektrischer und elastischer Felder, Quantum bit, transmon qubit, quantum computing, material defects and decoherence, spectroscopy of defects with dc-electric and elastic fields
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