Development of a Bearing Test Bench to Investigate Root Causes of Bearing Current Damages

¹; Doppelbauer, Martin ¹; Hagemann, Bjorn ¹; Jarosz, Antoine; Kett, Jürgen; Stoß, Johannes

¹
¹ Elektrotechnisches Institut (ETI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT	Elektrotechnisches Institut (ETI)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum	06.09.2023
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 979-83-503-9899-1 KITopen-ID: 1000162905
Erschienen in	2023 IEEE International Electric Machines & Drives Conference (IEMDC)
Veranstaltung	IEEE International Electric Machines & Drives Conference (IEMDC 2023), San Francisco, CA, USA, 15.05.2023 – 18.05.2023
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	1–5
Nachgewiesen in	Scopus Dimensions OpenAlex
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000162905/pub

Veröffentlicht am 25.03.2025

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/iemdc55163.2023.10238932

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