Collective Thomson Scattering Diagnostic for Wendelstein 7-X at 175 GHzW7-X Team; Moseev, D.; Laqua, H. P.; Stange, T.; Abramovic, I.; Nielsen, S. K.; Äkäslompolo, S.; Avramidis, K. A.; Braune, H.; Gantenbein, G.; Illy, S.; Jelonnek, J.; Jin, J.; Kasparek, W.; Krier, L.; Korsholm, S. B.; Lechte, C.; Marek, A.; Marsen, S.; Nishiura, M.; et al.
2020. Journal of Instrumentation, 15, C05035.
doi:10.1088/1748-0221/15/05/C05035